一、设备概述

双电测电四探针方阻电阻率测试仪是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。液晶显示无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD 芯片控制，恒流输出，使用方便。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表。

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。

二、技术参数与功能介绍

整机不确定性误差：≤3%（标准样片结果）

测试探头：探针间距选购：1mm；2mm；3mm 三种规格;

          探针材质选购：碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针