一、设备概述

薄膜纳米孔径分析仪 GAM-100，是全球首台在常温常压状态下，对检测样品无损害基础上，可表征纳米级多孔材料的仪器。设备中有完整的椭偏仪系统。由于设备在常温常压下运行，所以椭偏仪的所有功能均在 GAM-100 中正常使用。

GAM-100 是一台通用的薄膜表征设备，它可以用来表征薄膜的厚度，折射率， 憎水亲水性，及多空材料孔隙率、孔径大小、杨氏模量等。表征的孔径范围为 0.5 纳米到 40 纳米。无需真空系统的设备设计使得每个样品整个吸附、脱附测试可以在几分钟内完成。

其基本原理为：多孔材料的厚度及光学特性在吸附及脱附特定气体的过程中会发生变化，椭偏仪的检测数据显示这个变化和多孔材料的孔隙率，厚度，折射率，及杨氏模量相关，并依此测算出多孔材料的孔隙率，厚度，折射率，及杨氏模量。