一、设备概述

XRD（X 射线衍射）是目前研究晶体结构（如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等）最有力的方法。通过样品的 X 射线衍射图与已知的晶态物质的 X 射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定；通过对样品衍射强度数据的分析计算，可以完成样品物相组成的半定量分析。

二、技术参数

1、多用途薄膜测试组件；

2、X 射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC；

3、分析软件包括：XRD 分析软件包、NANO-Solver 软件包、GXRR 软件包等；

4、X 射线发生器功率为 3KW；

5、测角仪为水平测角仪；

6、测角仪最小步进为 1/10000 度；

7、In-Plane 测试组件；

8、高速探测器 D/teX-Ultra；

9、CBO 交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带 Mirror）；

10、小角散射测试组件；

11、微区测试组件；

12、测角仪配程序式可变狭缝；

13、高反射效率的石墨单色器；

14、测角仪半径:185mm,285mm(选购),280mm(TTR)；

15、X 射线防护罩:带故障保险机构的开闭式防护罩；

16、X 射线发生器:3kW。