一、设备概述

原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。

能够在大气及液体环境下准确地观测样品表面纳米尺度的三维形貌，可对样品表面物理化学特性进行研究，如表面组分区别、表面电势、磁场力和其他表面力以及相互作用力的测量；同时可以对样品表面进行纳米尺度的刻蚀和加工。