一、设备概述

高性能的荧光分光光度计，覆盖 200 至 850nm（最大）的波长范围。该仪器为荧光测量提供 5000：1（RMS）的信噪比，波长扫描速度为 60000nm/min。1.0 纳米的高分辨率光谱，高次光自动消除滤光片和精确的光谱校正保证了先进材料评估的卓越性能。 该仪器的高速数据采集能力保证了三维光谱和磷光样品的优化测量。

二、光谱仪的特点

高灵敏度：S/N > 5000 (RMS)

快速数据采集

最高扫描速度：达到 60000 nm/min

配置自动消除高次光滤光片

波长范围：200 ~750nm (850 nm 可选)

标配校准软件